高温高湿偏置试验方案（H3TRB测试）

高温高湿反偏试验 简称H3TRB，英文名称High Temperature and High Humidity Reverse Bias。在高温高湿条件下，将栅极与发射极短接，在集电极与发射极间加上设定的直流电压，同时检测直流电压与漏...

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连接件温升测试系统方案介绍

连接件温升测试系统方案 测试目的：连接件的耐温寿命试验。 测试方法：对连接件加载恒定的电流值，测量其连接件的温度变化。 测试需求： 电源、数据采集器开机自检； 程控电源...

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电阻元器件的快速测试解决方案

电阻元器件的快速测试解决方案 测试目的：批量测试其被测元器件在特定的环境下测试阻值特性。 测试要求：提供恒定的温度试验环境，满足易操作的连接方法，同时具备其快速测量...

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高温栅偏试验(HTGB测试）

高温栅偏试验 简称HTGB，英文名称High Temperature Gate Bias。在高温条件下，将栅极与发射极短接，在集电极与发射极间加上设定的直流电压，验证栅极漏电流的稳定性。 □试验对象 各种封...

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电子浆料的电阻温度系数测试解决方案

项目介绍： 本电阻测试系统是由一台高低温试验箱和一台电阻测试系统组成，测试夹具安装在高低温试验箱中，电阻测试系统通过测试线束与测试夹具连接 直流电阻的测试原理是先对被...

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高温反偏老化试验测试系统方案（HTRB测试）

高温反向偏压试验简称HTRB，英文名称High Temperature Reverse Bias。在高温条件下（100℃以上），持续提供80%规格的反向电压，在长时间（48小时以上）工作下，半导体器件的反向漏电流在规定范围内...

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高温高湿偏置试验方案（H3TRB测试）

高温高湿反偏试验 简称H3TRB，英文名称High Temperature and High Humidity Reverse Bias。在高温高湿条件下，将栅极与发射极短接，在集电极与发射极间加上设定的直流电压，同时检测直流电压与漏...

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分立器件的应用测试

分立器件，细分行业应用主要表现在二极管（整流/开关/限幅/稳压/肖特基/功率等），晶体管（GTR/MOSFET/IGBT)，晶闸管(SCR/GTO/LTT),会涉及应用测试、可靠性测试、失效分析、EMC等。

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