离子迁移测试系统

上海欣崇电子科技有限公司

Shanghai XinChong electronic technology Co., LTD

专注电子测量领域提供专业测试系统方案服务商

全国服务热线: 021-3126 6656

推荐资讯

咨询热线

021-3126 6656

连接件温升测试系统方案介绍

发布日期:2021-09-14 00:00
信息摘要:
连接件温升测试系统方案 测试目的:连接件的耐温寿命试验。 测试方法:对连接件加载恒定的电流值,测量其连接件的温度变化。 测试需求: 电源、数据采集器开机自检; 程控电源...

测试目的:连接件的耐温寿命试验。
测试方法:对连接件加载恒定的电流值,测量其连接件的温度变化。

测试需求:

•电源、数据采集器开机自检;

•程控电源恒流输出电流自定义编辑;

•程控电源恒流输出时间自定义编辑;

•多通道温度数据采集、存储;

•电源输出电压、电流数据自动记录;

•电流数据与温度数据实时曲线显示;

软件实现如下效果:


系统参数:
通道数:10-40通道 可选
温度范围:0-100度
探头类型:热电偶、热电阻等

系统配置:

直流电源   数量:1台;

•数据采集器   数量:1台;

•数据采集卡

•测温传感器

•工控电脑,数量:1台


【相关推荐】