上海欣崇电子科技有限公司
Shanghai XinChong electronic technology Co., LTD
专注电子测量领域提供专业测试系统方案服务商
全国服务热线： 021-3126 6656
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021-3126 6656高温反向偏压试验
简称HTRB，英文名称High Temperature Reverse Bias。在高温条件下（100℃以上），持续提供80%规格的反向电压，在长时间（48小时以上）工作下，半导体器件的反向漏电流在规定范围内保持稳定的试验。
□试验对象
各种封装的二极管、半桥、三极管、场效应管、可控硅、IGBT等半导体器件
□测试标准
IEC 60747-9；MIL-STD-750F；METHOD-1038
□试验条件
| 类别 | 温度 | 反向偏压 | 时间或周期 | 参考标准 |
| 肖特基芯片 | 100±5℃ | 80%规格 | 48/96/168/1000H | IEC 60747-9 MIL-STD-750F METHOD-1038 |
| 酸洗芯片 | 125±5℃ | |||
| 玻璃钝化芯片 | 150±5℃ |
□测试原理图如下
说明：在测试中，需持续监测门极的漏电流和门极开通电压，若这两项参数超出指定规格，则模块将不能通过此项测试。
□用途
判断器件的质量好坏，评价其可靠性水平。
□试验系统构成及技术指标
由漏电流测试系统与高温老化试验箱构成高温反偏老化试验系统，技术指标如下：
| 漏电流测试系统 | 型号：HVT-3000 |
| 标配：2 ~ 4 个组（64通道/组） 可选：32通道/组 | |
| 试验电源：2~4 个电源可选 (1个电源对应1个组); |
| 反向电压：最大1000V | |
| 电流检测范围：100aA~20mA | |
| 电流检测速度：3.5秒/通道（典型）；256通道≦10分钟 | |
| 外形尺寸：1800H×600W×1000D(mm) | |
| 高温老化试验箱 | 型号：DHHT-100 |
| 内尺寸: 500H×400W×500D(mm) | |
| 温度范围：常温~200℃/ 300℃ | |
| 温度波动度：±0.1℃~±0.5℃(空载) | |
| 外形尺寸：940H×1300W×740D(mm) | |
| 电源：AC 220V±10%；50Hz |
举例
1）以二极管SF58G为例，在150℃的老化环境温度下，持续提供420V的反向电压（规格书耐压为600V）
可见此样品在1小时内，温度升高，漏电流逐渐升高，在1小时时稳定下来，说明此样品在高温下能稳定工作（注：此实验只模拟高温和反向电压施压下的反向漏电流，没有通正向的电流）。
2）以二极管“SF56G”为例，在150℃的老化环境温度下，持续提供320V的反向电压（规格书耐压为400V）
可见有二只样品的漏电流急速上升，说明此样品在高温高压下，比较不稳定，有可能使用一段时间后，有反向漏电流击穿的风险。
结论
HTRB实验在二极管老化项目的重点项目之一，它可以模拟终端应用中的高温高电压下的二极管状况，在批量生产前的小样可靠性实验中，也显得极其重要！
