热油机在线检测电阻及电阻变化率的测试方法

热油试验机，热油机在线检测系统，电阻的阻值变化，四线测量

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高温高湿环境试验测试系统解决方案（双85测试）

高温高湿环境试验、双85（85℃，85%RH）、THB、偏压、可靠性、PCB基板、材料、助焊剂等相关辅料、在线的阻值监测，短路

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压力蒸煮锅试验测试方案（PCT测试）

压力蒸煮锅试验测试方案（PCT测试） 介绍： PCT试验一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验，主要是将待测品置于严苛的温度、饱和湿度及压力环境下测试，测试待测品耐高湿能力

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高低温冲击试验测试方案（TS测试）

TS：Thermal Shock 头字母的缩写（热冲击） 高低温冲击试验适用于自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击）。 测试目的：评估产品中具有不同热膨胀系数的金属之间的界面的接触良率。 测试条件：-55℃ ∼125℃（100℃）;-65℃ ∼150℃；加载电流（1A,3A,5A） 试验方法：将样品放入高低温冲击箱中，通过测试线与导通电阻测试系统相连。 失效机制：电介质的断裂，材料的老化，导体机械变形。

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高低温循环试验测试方案（TCT测试）

TCT：Thermal Cycling Test 头字母的缩写，多用于线路板、电子元器件、半导体、IC芯片等的可靠性试验。 测试目的：评估线路板、电子元器件、半导体、IC芯片等，在高低温循环及偏压条件下，温度变化引起故障机制，导致导通阻值的变化。 测试条件：-55℃ ∼125℃（100℃）;-65℃ ∼150℃；加载电流（1A,3A,5A）） 试验方法：将样品放入高低温循环箱中，通过测试线与导通电阻测试系统相连。 失效机制：电介质的断裂、导体和绝缘体的断裂，不同界面的分层

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高压蒸煮试验测试方案（AS测试）

高压蒸煮试验采用高压高湿条件，考核塑料封装的半导体集成电路等电子器件的综合影响，是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力，常用于产品开发、质量评估、失效验证。 测试目的：评估在高电压、高温、高湿条件下，电子产品的耐热。 测试条件：温度范围：105~142.9℃ 湿度范围：75%~100% 压力范围：0.02~0.186Mpa 失效机制：电解腐蚀 参照测试标准：《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》 GB/T 4937.4-2012；《高加速湿热应力试验》JESD22-A110D-2010；《非气密固态表面贴装器件 潮湿/再流焊敏感度分级》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008

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预失效等级测试方案（EFR测试）

EFR：Early fail Rate (Test) 头字母的缩写，早期失效等级测试。

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分立器件的应用测试

分立器件，细分行业应用主要表现在二极管（整流/开关/限幅/稳压/肖特基/功率等），晶体管（GTR/MOSFET/IGBT)，晶闸管(SCR/GTO/LTT),会涉及应用测试、可靠性测试、失效分析、EMC等。

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IV曲线测试系统

IV曲线测试，可以用于评估各种电子元器件的性能，包括二极管、晶体管、太阳能电池等。在太阳能电池的应用中，IV曲线测试可以用来评估太阳能的电池效率和输出功率。

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蓄电池模拟仪 项目案例

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超高电压热电池性能测试系统 项目案例

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高性能蓄电池模拟系统 项目案例

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