上海欣崇电子科技有限公司
Shanghai XinChong electronic technology Co., LTD
专注电子测量领域提供专业测试系统方案服务商
全国服务热线： 021-3126 6656
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高加速温湿度及偏压测试解决方案（b-HAST测试）
目的：评估产品在偏压下高温、高湿、高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。
测试条件：130度，85%RH，偏压
失效机制：电离腐蚀，封闭密封性
b-HAST方案是由HAST箱配合绝缘电阻测试系统（离子迁移测试系统）完成，是指被测样品在HAST加速老化试验箱内做在线绝缘阻值监测，以判定在高温高湿高压环境下，被测物是否发生离子迁移/CAF现象，从而观察被测物的可靠性是否达到标准。
HAST加速老化试验箱最多可支持180PIN，当采用正负极独立通道的测试方法时，最多支持90CH；当采用共极测试方法时，最多可支持175CH。通过HAST箱上固定的CAF测试专用转接端子，达到使绝缘电阻测试系统与HAST箱内被测样品直接相连的目的。
| 总PING数 | 180PING |
| 航插数 | 1-5个，36PING/个 |
| 通道数 |
正负极独立测试：18-90CH 共极测试：32-175CH |
| 转接端子参数 | 绝缘阻值＞13次方 |
绝缘电阻测试系统（离子迁移测试系统）现有300V、500V、1000V三种测试电压和32CH、64CH、96CH、128CH、256CH常规通道数的绝缘电阻测试系统与HAST搭配，可满足绝大部分的测试要求。
| 测试电压 | 300/500/1000V |
| 通道数 | 32/64/96/128/256CH |
| 电阻测量范围 | 1*106—1*1013Ω |
| 电阻测量精度 | 1*106—1*1010Ω≤±5.0%（测试电压5V） 1*1010—1*1011Ω≤±10.0%（测试电压5V） 1*1011—1*1012Ω≤±15.0%（测试电压50V） 1*1012—1*1013Ω≤±30.0%（测试电压100V） |
| 实时电流监测范围 | 0.1μA—500μA |
| 实时电流检测速度 | 10次/秒 |
