离子迁移测试系统

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高温栅偏实验系统
产品简介: 系统满足各种封装形式的MOSFET、IGBT等器件的高温栅偏试验。 符合MIL-STD-750、AEC-Q101等试验标准要求。

工作原理:

将被测量元件放置在一定的环境温度中,给被测元件的栅极施加一定的偏置电压。同时测控系统实时检测每个材料的漏电流、电压,并根据预先设定,当被测材料实时漏电流超过设定值时,自动切断被测材料上的电压,可以保护被测元件不会进一步烧毁。

符合标准:

符合MIL-STD-750,AEC\Q101等试验标准要求。

适用范围:系统能满足各种封装形式的MOSFET,IGBT等器件的高温栅偏试验。