离子迁移测试系统

上海欣崇电子科技有限公司

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高温反偏试验系统
产品简介: ​系统能满足各种封装形式的二极管、三极管、半桥、场效应管、可控硅、IGBT等系列器件在高温环境下进行反向偏压试验。

系统能满足各种封装形式的二极管、三极管、半桥、场效应管、可控硅、IGBT等系列器件在高温环境下进行反向偏压试验。

技术特点:

1、实时监测每个器件的反偏电压、漏电流;

2、每个器件对应一个快速熔断保险丝、保险丝板置于常温环境下避免高温环境对保险管的影响。

3、整个试验过程的数据 (漏电流、反偏电压、温度、湿度)记录并存储,输出为EXCEL报表和绘制全过程漏电流IR曲线。

可根据用户的需求,定制各种老化板及测试程序。