CAF测试系统-绝缘电阻-离子迁移-导通电阻-热油机测试系统-上海欣崇电子科技有限公司

上海欣崇电子科技有限公司

Shanghai XinChong electronic technology Co., LTD

专注电子测量领域提供专业测试系统方案服务商

全国服务热线: 021-3126 6656

您的位置: 主页 > 项目案例 > PCB板行业 >

预失效等级测试方案(EFR测试)

发布日期:2021-09-14 16:30
信息摘要:
预失效等级测试方案(EFR测试) 测试目的:评估工艺的稳定性,加速缺陷失效率,去除由于生产工艺的原因失效的产品。 测试条件:在特定时间人动态提升温度和电压对产品进行测试。...
信息摘要:
EFR:Early fail Rate (Test)   头字母的缩写,早期失效等级测试
 
试验目的:评估工艺的稳定性,加速缺陷失效率,去除由于天生原因失效的产品
测试条件:在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试
失效机制:材料或工艺的缺陷,包括诸如氧化层缺陷,金属刻镀,离子玷污等由于生产造成的失效
参考标准:JESD22-A108-A;EIAJED- 4701-D101
测试对象:PCB板(软板、硬板、混合板、多层板)、焊料、电子元器件等.

试验条件:85℃ 85%R.H、偏压(50V/100V/1000V)
试验方法:配套绝缘电阻(CAF)测试系统(SIR-8000)一起使用。将样品放入温湿度箱中,通过测试线与绝缘电阻测试系统连接。


绝缘电阻(CAF)测试系统(SIR-8000)技术指标:

测试电压 300/500/1000V
通道数 32/64/96/128/256CH
电阻测量范围 1*106—1*1013Ω
电阻测量精度 1*106—1*1010Ω≤±5.0%(测试电压5V)
1*1010—1*1011Ω≤±10.0%(测试电压5V)
1*1011—1*1012Ω≤±15.0%(测试电压50V)
1*1012—1*1013Ω≤±30.0%(测试电压100V)
实时电流监测范围 0.1μA—500μA
实时电流检测速度 10次/秒
参考标准:IPC-TM-650 (2.6.3.7) ; IPC-TM-650 (2.6.14.1) 
推荐资讯
高加速温湿度及偏压测试解决方案(HAS

高加速温湿度及偏压测试解决方案(HAS

b-HAST测试方案 b-HAST方案是由HAST箱配合绝缘电阻测试系统(离子迁移测试系统)完成,是指被测样品在HAST加速老化试验箱内做在线绝缘阻值监测,以判定在...
2021-09-14
预失效等级测试方案(EFR测试)

预失效等级测试方案(EFR测试)

预失效等级测试方案(EFR测试) 测试目的:评估工艺的稳定性,加速缺陷失效率,去除由于生产工艺的原因失效的产品。 测试条件:在特定时间人动态提...
2021-09-14
加速温湿度及偏压测试方案(THB测试)

加速温湿度及偏压测试方案(THB测试)

加速温湿度及偏压测试方案(THB测试) 测试目的:评估在高温、高湿、偏压条件下对湿气的抵抗能力,加速其失效进程。 测试条件:85度,85%RH,偏压 失效...
2021-09-14
高压蒸煮试验测试方案(AS测试)

高压蒸煮试验测试方案(AS测试)

高压蒸煮试验测试方案(AS测试) 测试目的:评估产品在高温、高湿、高坟气压条件下对湿气的抵抗能力,加速失效过程。 测试条件:130度,85%RH,偏压、...
2021-09-14
高低温循环试验测试方案(TCT测试)

高低温循环试验测试方案(TCT测试)

高低温循环试验测试方案(TC测试) 测试目的:评估产品中具有不同热膨胀系数的金属之间的界面的接触良率。 通过环境试验箱循环流动的空气从高温到低...
2021-09-14

咨询热线

021-3126 6656